产品介绍
IR-CA系列 机种一览
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机种 |
测定范围 |
型号 |
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低温· 长波长形 |
－50～100°C, 20～1000°C |
IR-CAB |
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低温· 短波长形 |
30～200°C, 100～500°C |
IR-CAE |
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低中温用 |
80～250°C,150～450°C, 200～800°C |
IR-CAP |
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中温用 |
300～1600°C, 200～1000°C（选件） |
IR-CAI |
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高温用 |
600～3000°C, 500～2000°C |
IR-CAS |
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高功能形 |
400～3000°C, 350～2000°C（选件） |
IR-CAQ |
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超宽范围形 |
20～3000°C |
IR-CAW |
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用途
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聚酯薄膜用 |
0～300°C |
IR-CAN |
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聚乙烯薄膜用 |
30～300°C |
IR-CAM |
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炉内用 |
350～100°C, 450～1300°C, 500～1500°C |
IR-CAR |
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玻璃用 |
100～800°C, 200～1800°C, 400～2800°C |
IR-CAG |
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硅用 |
400～800°C, 500～1000°C, 600～1200°C |
IR-CAT |
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镓、砷用 |
400～800°C, 500～1000°C |
IR-CAU |
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食品FA用 |
60～100°C |
IR-CAF |
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HMD（熟块检知器） |
100～550°C相当辉度温度 |
IR-CADAC01 |
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设定显示器 IR-GZ 带电源指示计
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型号 |
输出 |
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IR-GC1 |
继电器输出 |
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IR-GC1T（单色形、单色 超宽形） |
晶体管输出 |
IR-CA系列 规格
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机种 |
低温· 长波长形 |
低温· 短波长形 |
低中温用 |
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型号 |
IR-CAB |
IR-CAE |
IR-CAP |
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测定波长 |
8～13μm |
4μm |
2μm |
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检出元件 |
焦电元件 |
PbSe |
PbS |
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额定精度 |
±8°C |
200°C未满…±2°C 200°C以上…测定值的±1% |
±2°C℃ |
±3°C℃ |
500°C未满…±3°C 500°C以上…±5°C |
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重复性 |
0.2°C以内 |
1°C以内 |
0.5°C以内 |
1°C以内 |
1°C以内 |
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分辨力 |
0.1°C℃ |
1°C℃ |
0.1°C℃ |
1°C℃ |
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响应时间 |
2s |
0.2s |
0.02s |
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辐射率补偿 |
辐射率设定值…1.999～0.050 |
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光学系 |
镜头集光、固定焦点方式 |
镜头集光、可动焦点方式 |
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测定径 |
φ37/1000mm, φ20/1000mm, |
φ37/1000mm φ15/400mm |
测定距离/距离系数： 距离系数200 |
测定距离/距离系数 ：距离系数 50、200、300 |
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取景方式 |
激光投光，无取景器 |
直视取景 |
取景方式 |
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镜头口径 |
φ15mm |
φ20mm |
镜头口径 |
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模拟输出 |
4～20mA DC 隔离输出 |
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电源 |
24V DC（许容电压变动范围…22～28V） |
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消耗功率 |
最大5VA |
最大10VA |
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CE标识 |
EMC指令 EN61326＋A1 Emission classA Immunity AnnexA适合只有端子连接的场合 |
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机种 |
中温用 |
高温用 |
高功能形 |
超宽形 |
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形式 |
IR-CAI |
IR-CAS |
IR-CAQ |
IR-CAW |
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测定波长 |
1.55μm |
0.9μm |
1.55/1.35/0.9μm |
8～13/1.55/0.9μm |
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检出元件 |
InGaAs |
Si |
InGaAs/Si/InGaAs |
TP/InGaAs/Si |
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额定精度 |
1000°C未满…±5℃ |
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重复性 |
0.2°C以内 |
1°C以内 |
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分辨力 |
0.5°C |
1.0°C |
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响应时间 |
3ms |
20ms |
0.1s |
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辐射率补偿 |
辐射率设定值…1.999～0.050 |
辐射率比设定值…1.999～0.050 |
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光学系 |
可动焦点方式 |
镜头集光、固定焦点方式 |
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距离系数 |
200、50（选件） |
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测定距离 |
0.5m～∞ |
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测定径 |
测定距离/距离系数 |
φ29/1000mm |
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视定方式 |
直视取景或集光投光（选件） |
直视取景 |
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镜头口径 |
φ20mm |
φ30mm |
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模拟输出 |
4～20mA DC 隔离输出 |
4～20mA DC隔离输出 |
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电源 |
24V DC（许容电压变动范围…22～28V） 推荐电源单元IR-ZFEP（S82K-01524欧姆龙产） |
24V DC |
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消耗功率 |
最大3VA |
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CE标识 |
EMC指令 EN61326 |
EMC指令 |
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通用规格
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信号变调 |
DELAY… |
平均值（变调度 0.0～99.9s、0.1s步 1s未满0.01步任意设定） 变调度0=REAL |
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PEAK… |
最高值（变调值 0、2、5、10°C/s 选择设定） 变调度0=峰值保持 |
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显示 |
温度显示部…LCD 4位 参数部…LCD 4位 显示单位…°C/ （用操作键切换） |
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运算机能 |
零位、满度调整、自动辐射率运算、输出补偿 |
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自诊断 |
机器温度异常、参数出错 |
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使用温度范围 |
0～50°C |
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接线方法 |
端子接线或连接件接续 |
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外科材料 |
铝制 |
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重量 |
约1.3kg |
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用途
聚酯薄膜用 IR-CAN
利用聚酯系高分子材料特有的吸收带，可进行高精度的厚度测定
聚乙烯薄膜用 IR-CAM
利用聚乙烯系高分子材料含有的氧化吸收带就能不受着色剂影响对薄膜的厚度进行正确的测试
炉内用 IR-CAR
这种温度仪适合对燃烧炉内的物体或是用火焰加热的物体的温度进行测定。它对燃烧气体的影响很小，所以可以进行正确的测定。
玻璃用 IR-CAG
利用玻璃透过率少、受水蒸气、二氧化碳影响少的特定波长，就能不受透过、反射的影响，对玻璃的表面温度进行正确的测定。
硅片用 IR-CAT
利用硅片的不透明带域作为测定波长，可以不受芯片反面加热器的影响，对芯片温度进行高精度测定
镓 砷用 IR-CAU
利用镓、砷的不透明带域作为测定波长，对芯片的温度进行高精度的测定
食品FA用 IR-CAF
可对充灌到罐头、瓶装的果实、蔬菜类饮料的液温进行高速、高精度的测定。
HMD（热块检知器） IR-CADAC01
是为辨别有无铝等金属热块出现的专用仪器，当超过设定范围的热块出现时，就进行输出。
设定显示器 IR-GZ
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显示 |
温度、连接的辐射温度计番号、状态显示 |
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模拟输出 |
输出 4～20mADC（IR-GZ输出、负载阻抗500Ω以下） |
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事件输出 |
2点 |
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接点容量 |
240VAC1.5A |
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电源 |
100-240VAC自由电源 50/60Hz |
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消耗功率 |
最大20VA |
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使用温度范围 |
-10°C～50°C |
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使用湿度范围 |
20～90%RH（不结露） |
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重量 |
约0.5kg |
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电源指示计 IR-GC
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显示 |
数据、模式、报警状态显示 |
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模式 |
平均、持续 |
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模拟输出 |
4～20mA DC（负载阻抗750Ω以下）隔离输出 |
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报警输出 |
上下限独立设定、继电器或晶体管输出 |
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辐射温度计电源 |
24V DC、100mA |
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电源 |
100－240V AC 自由电源、50/60Hz |
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消耗功率 |
最大20VA |
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使用温度范围 |
0～50℃ |
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使用湿度范围 |
90%RH以下（不结露） |